Essai et Mesure
Le nouvel Amplificateur de puissance Teseq offre fiabilité et régularité La technologie de circuits intégrés GaAs IC améliore la compression
Teseq, leader en développement et en fourniture d'instrumentation et de systèmes de tests d'émission et d'immunité CEM, a élargi sa gamme d'amplificateurs à large bande en incluant un nouveau modèle classe A fonctionnant de 10 kHz à 400 MHz avec un niveau de saturation de 110 W. Le CBA 400M-110 utilise la technologie des circuits intégrés en arséniure de gallium (GaAs) afin de fournir des caractéristiques de compression nettement supérieures et une efficacité accrue, que les amplificateurs de puissance à base de silicium comparables.
Nouvelle version du logiciel de test des semi-conducteurs, KTE, orientée sur une accélération de la cadence en production des chips
Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux dans le domaine des tests électriques avancés et des systèmes de mesure annonce, une nouvelle version de son logiciel KTE pour le test des semi-conducteurs. La version 5.3 de ce logiciel a été conçue pour fonctionner sur les systèmes paramétriques de la série S530, actuellement la solution la plus rapide et la plus économique de toutes les systèmes Keithley pour la surveillance des contrôles de process. Pour plus d'informations sur cette nouvelle version, rendez vous sur notre site : http://www.keithley.com/data?asset=55833.
Keithley agrandit sa famille de SourceMeter® de la série 2400 avec une solution économique pour les tests à faible tension
Keithley Instruments, Inc., Inc., l'un des leaders mondiaux dans le domaine des tests électriques avancés et des systèmes de mesure annonce l'arrivée d'un nouvel modèle qui vient s'ajouter à la très célèbre famille des SourceMeters, série 2400. Comme toutes les unités de source et mesure de Keithley, le nouveau modèle 2401 a été prévu pour des applications de test qui demandent une grande précision, par exemple, la caractérisation I-V des cellules photovoltaïques (cellules solaires),des LED à haute luminosité (HBLED), des matériaux basse tension et des composants semi-conducteurs ainsi que les mesures de résistances; cependant, le 2401 offre maintenant des capacités avancées de source et mesure à des niveaux de signal de 20V et 1A et ce, pour un prix inégalé à ce jour. Des informations plus détaillées sont disponibles sur le site de Keithley : http://www.keithley.com/products/dcac/currentvoltage/highvoltage/?mn=2401.
Avant-Premiere pour Pickering Interfaces pour MESURExpoVISION 2011
Pickering Interfaces, principal fournisseur de matériel PXI/LXI a continué en 2011 à innover de façon régulière en mettant sur le marché toute une panoplie de nouveaux produits dans les plateformes LXI et PXI. En outre, tous les produits LXI de Pickering Interfaces sont maintenant entièrement conformes aux dernières spécifications de la norme LXI 1.4. Pickering Interfaces est engagé à suivre l'évolution de la norme LXI et à adapter ses nouveaux dispositifs pour améliorer l'utilisation de l'instrumentation commandée par Ethernet.
JTAG Technologies apporte aux testeurs fonctionnels une interface à haute intégrité pour MAC Panel SCOUT
JTAG Technologies a le plaisir d'annoncer la disponibilité immédiate d'une nouvelle interface matérielle JTAG/boundary-scan compatible avec le système d'interconnexion de masse MAC Panel Scout. Le JT 2147/DAK est un module de conditionnement de signal permettant la connexion transparente du contrôleur PXI DataBlaster de JTAG Technologies à la solution Scout.
Gestionnaire octuple de tensions, d’intensités et de températures, pour des mesures internes et déportées précises
Linear Technology Corporation présente le LTC2991, un gestionnaire d'intensités, de tensions et de températures, à interface I2 C, huit canaux, pour les systèmes alimentés en 3V et 5V. Le LTC2991 est une solution de gestion, à haute intégration, qui comprend un CAN 14 bits, une référence de tension à 10ppm/°C et une interface numérique I2 C pouvant offrir une résolution de tension inférieure au millivolt et une mesure d'intensité à 1%, ainsi qu'une précision de mesure déportée de ±0,7°C et une précision interne de ±1°C, lors de mesures de températures. Huit entrées unipolaires peuvent être configurées pour toute combinaison de mesures de température interne, température déportée, tension déportée et VCC interne pour des opérations uniques ou répétées. Le LTC2991 offre une solution à configurations multiples, cependant simple, pour la gestion simultanée de combinaisons de mesures de températures, tensions et intensités sans compromettre la précision ou tout autre paramètre.
Nouveau réseau de stabilisation d'impédance de ligne de TESEQ permettant d’effectuer des essais d’émissions conduites sur des conditionneurs d’alimentation raccordés au réseau
TESEQ, un concepteur et fournisseur leader d'instruments et de systèmes d'essais d'émissions CEM et d'immunité, présente un nouveau réseau de stabilisation d'impédance de ligne (RSIL) permettant d'effectuer des essais d'émissions conduites sur des conditionneurs d'alimentation raccordés au réseau. Le DC-LISN-M2-25-V1 permet de mesurer les perturbations asymétriques sur des ports de puissance en courant continu dans une plage de fréquences comprises entre 150 kHz et 30 MHz.
TESEQ lance un nouveau générateur de tests pour la simulation de baisses, interruptions et variations de tension
Teseq, l'un des leaders mondiaux de la fabrication et de la commercialisation d'instrumentation et de systèmes pour tests CEM d'émissions et d'immunité, annonce le lancement du générateur NSG 3040-DDV, qui produit des ondes de test pour la simulation de baisses, interruptions et variations de tension. Le nouveau NSG 3040-DDV est le premier modèle d'une série de générateurs à fonction unique dérivés de la populaire famille de générateurs combinés NSG 3040.
Le logiciel Compliance 5 de Teseq intègre désormais les programmes d’essais CEM du secteur aérospatial Nouveaux essais d’émissions et de susceptibilité conformes à RTCA/DO 160
Teseq, un concepteur et fournisseur leader d'instruments et de systèmes d'essais d'émissions CEM et d'immunité, présente des applications aérospatiales d'essais d'émissions RF et de susceptibilité conformes à DO160 à utiliser dans le logiciel d'essais CEM Compliance 5.
Zuken lance un nouveau logiciel dédié à l'intégrité de l'alimentation pour l'analyse de circuits imprimés haute vitesse
Zuken annonce le lancement d'un nouveau logiciel dédié à l'analyse simultanée de l'alimentation électrique, de l'impact du bruit en courant continu et des interférences électromagnétiques formant une partie intégrante du processus de conception de circuits imprimés. Le nouveau module CR 5000 Lightning Power Integrity Advance permet aux ingénieurs concepteurs de circuits imprimés de réaliser des analyses avancées d'intégrité de l'alimentation pour la distribution de l'alimentation en courant alternatif et en courant continu à tout moment du processus de conception physique. Le temps de conception se voit raccourci car les itérations et les remaniements de conceptions sont supprimés. Ainsi, il est possible de réaliser un gain de temps atteignant près de 40 % lors de l'optimisation d'un condensateur de dérivation.
Keithley Instruments annonce un nouvel instrument de la série SourceMeter orienté sur le test des semi-conducteurs de puissance
Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques et systèmes avancés annonce la commercialisation d'un nouvel instrument de la série SourceMeter® pour les semi-conducteurs de puissance, le modèle 2651A qui constitue la dernière adjonction à la famille des SourceMeter de la série 2600A. Spécialement étudié pour la caractérisation des composants électroniques de puissance, le modèle 2651A offre la gamme de courants la plus étendue que l'on puisse trouver actuellement dans l'industrie
NI LabWindows™/CVI 2010 améliore la productivité des développeurs en C ANSI et simplifie la communication FPGA
National Instruments annonce LabWindows/CVI 2010, nouvelle version de sa plate-forme de programmation en C ANSI d'applications de test et mesure, qui se distingue par une productivité accrue et une communication FPGA (field-programmable gate array) simplifiée. Cette annonce concerne également les Modules LabWindows/CVI 2010 Linux Run-Time et LabWindows/CVI 2010 Real-Time qui offrent des fonctionnalités permettant d'étendre l'environnement au déploiement sur les systèmes d'exploitation Linux et temps réel.
De nouveaux châssis NI PXI Express pour optimiser les applications de test et contrôle automatisés
National Instruments annonce deux nouveaux châssis PXI Express qui vont doper les applications de test et contrôle automatisés pour le même prix que les châssis PXI équivalents. Les ingénieurs peuvent utiliser les châssis NI PXIe-1078 à neuf emplacements et NI PXIe-1071 à quatre emplacements afin de tirer parti des tout derniers modules et contrôleurs PXI Express tout en bénéficiant de la souplesse offerte par la compatibilité avec les modules PXI existants.
Keithley Instruments accélère la cadence et la précision de ses systèmes de test paramétrique S530
Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques et systèmes avancés annonce en certain nombre d'améliorations sur sa ligne de produits S530 pour le test paramétrique. Cette ligne constitue la solution la plus économique et la plus complètement automatisée pour la production, que l'on puisse trouver actuellement dans l'industrie des semi-conducteurs. Parmi ces améliorations, on remarque l'inclusion du nouveau châssis de commutation rapide qui offre une haute intégrité du signal et qui permet toutes les mesures Kelvin au niveau de la carte des sondes afin d'obtenir une meilleure précision sur les faibles résistances ; on trouve aussi parmi ces améliorations, des modules hardware de protection pour protéger les instruments sensibles contre les surtensions et une gamme complète de probes up' et une boîte à outils pour le diagnostique. Pour plus d'informations sur cette ligne de produits, rendez vous sur : http://keithley.acrobat.com/p20663354/
Keithley vient de publier sur CD son nouveau catalogue 2011 pour ses produits de test et mesure
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques avancés et les systèmes de mesure annonce l'édition sur CD de son nouveau catalogue 2011. Ce CD contient toutes les informations et spécifications techniques sur les produits d'utilisation générale, la série des générateurs/mesureurs ultra sensibles, les systèmes de commutation DC, les multimètres numériques, les commutations RF et hyperfréquences, les systèmes d'acquisition de données et ceux utilisés pour le test des semi-conducteurs. Il comporte aussi des guides de sélection utiles et l'assistance nécessaire pour vous permettre de faire le meilleur choix pour vos applications spécifiques.
National Instruments accroît la disponibilité des IP avec le nouveau NI LabVIEW FPGA IPNet
National Instruments annonce la nouvelle version de NI LabVIEW FPGA IPNet, une ressource en ligne permettant aux ingénieurs de conceptions de systèmes numériques de parcourir, télécharger et partager les toutes dernières propriétés intellectuelles (IP) pour les applications de conception à base de FPGA (field-programmable gate array). IPNet regroupe en un seul et même emplacement des IP provenant de différentes sources, notamment le service R&D de NI, la communauté des utilisateurs du logiciel de conception graphique de systèmes LabVIEW et des développeurs tiers. La toute dernière version offre de nouvelles fonctions d'IP, une nouvelle interface utilisateur avec un filtrage de recherche avancée et des capacités de téléchargement direct, ainsi qu'une apparence et une approche modernisées qui facilitent le partage d'informations dans tous les domaines de développement à base de FPGA.
Les bénéficiaires du prix Nobel de Physique ont utilisé des instruments de Keithley
Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques avancés et les systèmes de mesure, adresse ses félicitations aux Drs Andre Geim et Konstantin Novoselov de l'université de Manchester en Angleterre qui se sont vu attribuer le prix Nobel de Physique 2010 pour leurs recherches sur le graphène. Ce matériau est une monocouche atomique de carbone qui présente des propriétés physiques, électriques et chimiques, remarquables. Tout au long de leurs recherches, les docteurs Geim et Novoselov ont utilisé plusieurs instruments de Keithley, tels que le SourceMeter®, modèle 2400 et le nanovoltmètre, modèle 2182A.
National Instruments annonce le contrôleur d’instruments GPIB-ENET/1000 configurable et pilotable par le Web
National Instruments, leader en contrôle d'instruments depuis plus de 30 ans, annonce le nouveau contrôleur Gigabit Ethernet-vers-GPIB NI GPIB-ENET/1000, en parallèle de nouveautés logicielles en matière de contrôle d'instrumentation comme des fonctionnalités avancées dans NI LabVIEW 2010, la version 5.0 de NI VISA ainsi que de nouveaux drivers d'instruments. Par rapport à son prédécesseur, le NI GPIB-ENET/100, le GPIB-ENET/1000 affiche des vitesses de transfert jusqu'à quatre fois supérieures sur de grosses quantités de données, et jusqu'à trois fois supérieures sur de petits transferts d'octets.
National Instruments va ajouter des capacités de test automatisé LTE à son portfolio de produits PXI de test RF
National Instruments annonce l'ajout prochain de capacités de test LTE à son portfolio de produits de test RF avec la Suite NI LTE Measurement, qui fonctionnera avec des analyseurs et des générateurs de signaux RF au format PXI. Conçu pour tester les composants sans fil, les composants des sous-systèmes et les stations mobiles LTE 3GPP (3rd Generation Partnership Project), ce système de test défini par logiciel va fournir une solution rapide, flexible et précise pour les ingénieurs qui développent des systèmes de tests automatisés en production et en validation pour les produits LTE.
NI VeriStand 2010 : des applications durcies faible coût jusqu’aux systèmes multichâssis hautes performances
National Instruments annonce NI VeriStand 2010, avec des améliorations qui étendent ses capacités dans le cadre des tests hardware-in-the-loop (HIL) et temps réel grâce au support des systèmes PXI multichâssis hautes performances et des options de déploiement faible coût sur matériels NI CompactRIO et NI Single-Board RIO. NI VeriStand 2010 offre également une connectivité améliorée avec NI LabVIEW, facilitant la réutilisation de logiciels existants et la personnalisation des applications NI VeriStand.
National Instruments organise de nouvelles Journées Techniques LabVIEW dans huit villes de France
National Instruments organise, du 5 octobre au 18 novembre prochains, dans huit grandes villes françaises (Grenoble, Marseille, Lille, Strasbourg, Paris, Lyon, Toulouse et Rennes), des journées techniques consacrées aux applications et aux bonnes pratiques de développement sous LabVIEW.
Keithley vient de remporter une nouvelle certification ce qui le porte au premier rang des labos américains avec ce nouveau succès
Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques avancés et les systèmes de mesure annonce que son Département de Métrologie vient de recevoir le renouvellement de sa certification pour la nouvelle norme américaine ANS/NCSL Z540-3-2006. On peut visualiser le domaine de cette certification en se rendant sur : http://www.a2la.org/scopepdf/2462-01.pdf.
De nouveaux Appareils de Commutation Etudies pour accroitre les Cadences de Test des Semiconducteurs
Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les systèmes et les instruments de test électriques avancés, annonce la commercialisation des modèles 707B qui peut recevoir six cartes enfichables et du 708B doté d'une simple carte de commutation matricielle ; ces cartes ont été conçues pour le test des semi-conducteurs en environnement de laboratoire ou en production. Ces appareils, sont équipées de commandes de connexion plus rapides, d'où un accroissement tout à fait significatif des cadences et des séquences ce qui permet de disposer de la plus grande rapidité possible du système pris dans sa globalité. Une autre considération également importante : ces nouveaux modèles sont compatibles avec le 7174A, Air Matrix qui est une carte matricielle de format 8x12 de haute rapidité, de faibles courants de fuite et, en réalité, la première carte matricielle standard capable d'effectuer des commutations d'intensités inférieures à 100 fA d'offset sur tous les chemins. Les modèl
JTAG Technologies répond à la demande en matière de contrôle de test intégré sur les cartes
JTAG Technologies a le plaisir d'annoncer un nouveau kit de support pour les concepteurs de cartes et de systèmes désireux de mettre en œuvre un accès intégré pratique pour le test boundary-scan et la (re)programmation de composants in-situ.
National Instruments annonce le premier analyseur de réseaux vectoriels RF de l’industrie au format PXI
National Instruments lance l'analyseur de réseaux vectoriels (VNA) deux ports 6 GHz NI PXIe-5630, le premier VNA de l'industrie du test automatisé disponible dans un facteur de forme PXI compact. Avec son support pour l'analyse vectorielle complète des paramètres de transmission et de réflexion (T/R), un calibrage automatique de précision et une architecture définie par logiciel évolutive, le nouveau VNA se prête parfaitement au test automatisé de validation de conception et en production. Son architecture PXI modulaire et sa compacité (deux emplacements) permettent aux ingénieurs d'intégrer de l'analyse de réseaux vectoriels dans leurs systèmes de test sans pâtir des coûts élevés ni de l'encombrement important des VNA de tables traditionnels.
NI LabVIEW 2010 bénéficie d’un compilateur optimisé pour une exécution du code plus rapide
National Instruments annonce aujourd'hui LabVIEW 2010, la toute dernière version de l'environnement de programmation graphique pour les applications de contrôle, mesure, test et conception. LabVIEW 2010 se distingue par une économie de temps significative grâce à de nouvelles caractéristiques telles que l'intégration de technologies de compilation « sur étagère », qui permet un gain de 20% sur le temps d'exécution du code, et un « marché » complet permettant d'évaluer et d'acheter des toolkits spécialisés pour intégrer facilement des fonctionnalités personnalisées dans la plate-forme. Pour les utilisateurs FPGA (Field-Programmable Gate Array), LabVIEW 2010 offre un nouveau nœud d'intégration d'IP qui permet d'intégrer n'importe quelle IP FPGA tierce dans des applications LabVIEW et qui est compatible avec Xilinx CORE Generator. National Instruments a aussi implémenté une quinzaine de nouvelles fonctionnalités suggérées par des utilisateurs majeurs sur LabVIEW Idea Exchange, un forum de
National Instruments enrichit sa plate-forme NI-XNET pour réseaux embarqués avec le support du bus de communication LIN
National Instruments annonce de nouvelles interfaces PXI et PCI qui permettent à la plate-forme NI-XNET d'inclure le support du bus de communication LIN (Local Interconnect Network). Ces nouvelles interfaces LIN NI PXI-8516 et NI PCI-8516 permettent aux ingénieurs et aux scientifiques de développer des applications LIN en NI LabVIEW, NI LabWindows/CVI et C/C++ pour les systèmes d'exploitation Windows et LabVIEW Real-Time. Dans la plate-forme NI-XNET, les nouvelles interfaces PXI et PCI sont idéales pour les applications nécessitant une manipulation haute vitesse et temps réel d'un grand nombre de signaux et de trames LIN, comme la simulation HIL (hardware-in-the-loop), le prototypage rapide de systèmes de contrôle, la surveillance de bus et le contrôle d'automatisation. En outre, ces nouvelles interfaces offrent un support intégré pour importer et utiliser les signaux issus de bases de données LDF, ce qui simplifie la planification et le redimensionnement des messages LIN sur le bus.
Keithley propose gratuitement un CD sur les supports de tests pour la nanotechnologie
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques avancés et les systèmes de mesure propose un CD avec un nouveau recueil de tests pour la nanotechnologie. Celle-ci a été conçue pour apporter une aide visant à rendre les mesures électriques plus performantes grâce à des documents techniques, des articles, des fiches de données et des liens directs sur Internet permettant d'accéder à des séminaires sur une grande diversité de tests en nanotechnologie. Ces applications couvrent des mesures capables de faire apparaître des paramètres importants sur les matériaux et les composants semi-conducteurs à l'échelon de la nanotechnologie, des nanotubes au carbone, des composants à Effet Hall, des matériaux à résistances non linéaires et autres. Les solutions de test et de mesure qui se trouvent sur ce CD sont organisées par type d'instrument ; par exemple les générateurs de courant, les électromètres et les picoampèremètres, les instruments du type générateur/mesureurs in
Keithley propose un adaptateur d'interfaces USB/GPIB de faible coût et doté de toutes les fonctionnalités
Keithley Instruments annonce un adaptateur d'interfaces USB/GPIB, modèle KUSB-488B. Afin de limiter les coûts entraînés par le passage à un nouvel adaptateur, la bibliothèque de gestion du modèle KUSB-488B est pleinement compatible avec le jeu de commandes du GPIB traditionnel de Keithley et celui de National InstrumentsTM (NITM). Cette compatibilité fait que les applications existantes sont directement utilisables en mode plug and play. La bibliothèque des pilotes est aussi compatible avec l'interface GPIB et le modèle KPCI-488LPA, basé sur le PCI, ce qui rend particulièrement aisé le passage du mode PCI ou USB au contrôle GPIB. Ceci évite des investissements en logiciel et par conséquent réduit le coût global du test.
National Instruments annonce l’acquisition de données hautes performances PXI Express avec conditionnement de signaux intégré
National Instruments annonce ses premiers modules d'acquisition de données (DAQ) avec conditionnement de signaux intégré pour des mesures hautes performances évolutives sur PXI Express. La nouvelle famille SC Express de NI garantit une précision accrue, une vitesse de transfert de données élevée et une synchronisation de premier ordre pour les mesures à partir de jauges de contrainte, de capteurs à base de pont, de thermocouples ainsi que d'entrées analogiques haute tension. Le PXI Express offre 250 Mo/s de bande passante dédiée pour chaque module SC Express dans le châssis, ce qui permet d'accroître le nombre de voies sans compromettre les fréquences d'échantillonnage ni la vitesse de transfert des données. Avec un encombrement réduit, une gestion simplifiée des câbles et de nouvelles caractéristiques logicielles pour la synchronisation automatique, les modules SC Express facilitent la configuration et la programmation des systèmes de mesure par capteur à grand nombre de voies.
National Instruments annonce un module pour le traitement par FPGA d’images transmises en Camera Link
National Instruments annonce la sortie d'une nouvelle solution de vision pour la plate-forme PXI intégrant une architecture de traitement parallèle hautes performances pour le cadencement matériel, le contrôle et le pré-traitement d'images. Cette solution combine le nouvel adaptateur NI 1483 pour l'acquisition d'images par Camera Link avec la carte FPGA (field-programmable gate array) NI FlexRIO, pour offrir des algorithmes de vision et de contrôle embarqués directement sur FPGA. Les FPGA peuvent être utilisés pour traiter et analyser une image en temps réel avec peu voire aucune intervention du microprocesseur. De plus, avec les FPGA, la conception de matériels personnalisés n'est plus indispensable.
LeCroy fait la démonstration d’une technologie pour des oscilloscopes temps réel haute bande passante jusqu’à 60 GHz
LeCroy Corporation (Nasdaq:LCRY - News), annonce aujourd'hui la 6ème génération de sa technologie Digital Bandwidth Interleave (DBI) et démontre avec succès sa conception dans son labo de New York. Cette dernière génération fait appel à un nouvel étage d'entrée, avec un niveau de bruit encore plus bas et une bande passante plus élevée. La combinaison de nouveau silicium et de l'amélioration des techniques DBI abouti à un oscilloscope numérique faible bruit offrant une bande passante analogique de 60 GHz, soit deux fois plus que le précédent record de 30GHz détenu par LeCroy.
Keithley commercialise une nouvelle carte de commutation matricielle à relais reed rapides, remarquable par sa haute densité et sa grande souplesse de configuration
Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les systèmes et les instruments de test électriques avancés, annonce une nouvelle carte de commutation à relais reed rapides, de format 4x28, et de très haute densité, le modèle 3732 Quad. Cette carte de 448 points d'intersection mono polaires a été étudiée pour les applications de commutation automatisée et les mesures nécessitant les connexions d'un grand nombre d'instruments ou une grande densité de points d'intersection à grande vitesse. Elle constitue une solution idéale pour une utilisation dans un vaste domaine tel que les tests en production et en R&D lorsque les taux de comptages sur les broches sont particulièrement élevés comme il arrive avec le test des résistances de contact à bas niveau sur les cartes interface de mémoires rapides ou avec la prochaine génération des supports de CI.
National Instruments annonce des fonds de panier PXI/CompactPCI pour les applications OEM de test et de contrôle embarqués
National Instruments propose désormais les fonds de panier de tous ses châssis PXI/CompactPCI et PXI Express utilisables dans diverses applications, de l'aérospatiale/défense jusqu'au contrôle embarqué industriel. Les ingénieurs et scientifiques peuvent utiliser les fonds de panier PXI/CompactPCI pour créer des applications durcies personnalisées répondant à leurs besoins spécifiques en termes de facteur de forme ou à des spécifications environnementales particulières.
Agilent Technologies présente ses outils complets de test de conformité et de protocole DDR2 faible puissance
Agilent Technologies Inc. a présenté aujourd'hui les applications les plus complètes de l'industrie pour le test de conformité et de protocole DDR2 faible puissance (LPDDR2) ainsi que les premières sondes BGA LPDDR2. En accélérant la mise en route et le débogage des systèmes basés LPDDR2, ces outils procurent aux ingénieurs un moyen efficace d'assurer l'interopérabilité de leurs conceptions LPDDR2 avec leurs autres composants LPDDR2.
Keithley vient d’éditer sur CD, un nouveau guide pour mieux comprendre les tests électriques et les mesures
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques avancés et les systèmes de mesure vient d'éditer un CD d'assistance sur des techniques pratiques et utiles pour obtenir les meilleurs résultats de mesure possibles en termes d'exactitude et de précision. Le nom de ce CD est A Guide for Understanding Electrical Test and Measurement. Il rassemble les connaissances les plus approfondies jamais éditées par Keithley et prend en considération tous les aspects des performances de mesure en y incluant les méthodes de dépannage, la connectique, le choix des instruments et autres.
Alimentations DEL étanches haute efficacité tests ACAL Technology
ACAL Technology essaie actuellement les alimentations DEL compactes Excelsys, qui allient jusqu'à 95 % d'efficacité à des puissances nominales de 30 W à 300 W et des boîtiers étanches IP67. La série LXC à courant de sortie constant et la série LXV à tension de sortie constante sont des alimentations compactes mais robustes adaptées à de nombreuses applications d'éclairage DEL internes et externes.
Agilent Technologies présente les oscilloscopes temps réel les plus rapides au monde, dotés d’une bande passante analogique réelle de 32 GHz
Agilent Technologies Inc. a présenté aujourd'hui la gamme d'oscilloscopes Infiniium série 90000 X avec son modèle phare leader de l'industrie doté d'une bande passante temps réel de 32 GHz. Dix nouveaux modèles sont proposés, de 16 GHz à 32 GHz, avec possibilité de mise à niveau de la bande passante. Grâce à leur plancher de bruit et de mesure de gigue qui sont les plus bas de l'industrie, ces oscilloscopes se caractérisent par une précision de mesure accrue.
National Instruments annonce un nouveau matériel USB faible coût qui simplifie les mesures de températures
National Instruments annonce le boîtier NI USB-TC01, un matériel d'acquisition de données (DAQ) en USB qui mesure et enregistre des données de température provenant d'un thermocouple. Ce nouveau produit combine une configuration plug-and-play à la fois rapide et simple avec les caractéristiques et les capacités haute qualité des produits DAQ de NI. Il intègre la technologie NI InstantDAQ, qui permet aux utilisateurs d'effectuer des mesures de température sur-le-champ sans perdre de temps pour la configuration ni installer de logiciel driver.
Agilent Technologies enrichit l’analyseur de signaux PXA par des applications de mesure embarquées LTE et HSPA+
Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) a annoncé aujourd'hui son projet de montrer comment les nouvelles applications de mesure évoluées embarquées dans l'analyseur de signaux N9030A PXA sont utilisées pour tester les émetteurs de radiofréquences (RF). Ces démonstrations auront lieu lors du Congrès Mobile World 2010 à Barcelone, en Espagne.
