Essai et Mesure
Keithley renforce sa gamme de multimètres numériques avec un nouveau modèle 5 digits ½ programmable
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux dans le domaine de l'instrumentation et des systèmes continue de construire sa longue histoire dans le domaine des multimètres numériques (DMM) avec une nouvelle offre à un prix particulièrement intéressant. Le modèle 2110, 5 digits 1/2 est un multimètre à double affichage, utilisable à la fois pour tout type d'applications et sur bancs de test. Comparé aux meilleurs DMM 5-1/2 digits de sa catégorie, le modèle 2110 offre une vitesse de mesure supérieure (jusqu'à 10 fois supérieure), une meilleure précision (2 fois supérieure en mode DCV), un prix inférieur et une plus grande souplesse d'intégration. Il est également équipé de fonctionnalités de trigger externe, d'un buffer de stockage interne et d'une interface GPIB (en option) pour une utilisation plus facile.
La famille des SourceMeter Keithley s'agrandit avec trois nouveaux modèles
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux dans le domaine de l'instrumentation et des systèmes vient de compléter sa gamme de SourceMeter 2600B avec trois nouveaux modèles de source et mesure (SMU) équipés de nouvelles fonctionnalités destinées à améliorer la productivité et la facilité d'utilisation.
Anritsu améliore son ACCESS Master, une nouvelle génération d’outils de test d’installation et de maintenance sur le terrain
Anritsu Company, fournisseur mondial de solutions de tests et mesures innovantes pour les réseaux avancés et convergents, annonce aujourd'hui le lancement de la prochaine génération de réflectomètres portables ACCESS MASTER.
Advantest met au point un système d’analyse tomographique
La société Advantest a annoncé aujourd'hui qu'elle avait mis au point un système d'analyse tomographique de temps de vol (TOF – Time of Flight) Terahertz (THz) utilisant des ondes THz à impulsion courte et large bande. Ce nouveau système effectue l'imagerie et l'analyse de revêtements multicouches jusqu'à 10 μm, permettant ainsi d'analyser les films d'électrode dans des piles Li-Ion ainsi que les couches multiples des peintures automobiles, entre autres applications.
Teseq propose un nouveau CDN triphasé pour salves d'impulsions, destiné aux essais TER
TESEQ, concepteur et fournisseur leader d'instruments et de systèmes d'essais d'émissions CEM et d'immunité, propose désormais un réseau de couplage/découplage (CDN) triphasé à salve d'impulsions de 200 A, destiné aux essais de transitoire électrique rapide (TER) en salves. Le nouveau CDN 3083-B200 gère facilement des courants d'appel élevés et des courants de crête à forme d'impulsions, ce qui en fait le réseau idéal pour tester des équipements à courant et puissance élevés dans de grands appareils, machines et applications de réseau intelligent.
Samsung fait la démonstration de services de diffusion LTE à l’aide de l’application Rapid Test Deigner (RTD) et du testeur MD8430A de la société Anritsu
Samsung Electronics Co. Ltd, un leader mondial des medias et de la convergence numérique, a réussi à démontrer les possibilités de réception de services de diffusion LTE utilisant la technologie "evolved Multimedia Broadcast Multicast Services, (eMBMS)", à l'aide des produits Anritsu Rapid Test Designer (RTD) et MD8430A, utilisés pour simuler l'environnement d'un réseau LTE.
Advantest livre son 500ème testeur V93000 Port Scale RF à un fabricant chinois de circuits intégrés pour la communication sans fil
L'un des premiers fournisseurs de systèmes de test de semiconducteur, Advantest Corporation, a installé son 500ème testeur V93000 Port Scale RF. Ce système à la pointe de l'innovation rejoint le laboratoire d'études de mise au point technique de la société Spreadtrum Communications (Shanghai) Co., Ltd. Spreadtrum est une entreprise de semiconducteurs fabless* qui développe des circuits intégrés mobiles pour le marché des communications sans fil. Spreadstrum a commencé à utiliser ce testeur polyvalent, équipé à la fois d'une carte numérique Pin Scale 1600 et d'une carte analogique MB-AV8+, pour mettre au point des circuits destinés aux applications de téléphonie mobile, qui sont des composants SOC RF (System-on-Chip) traitant 3G et bande de base.
Avago Technologies va commercialiser les premiers amplificateurs d’isolation optique optimisés pour la mesure de tension
Avago Technologies a annoncé aujourd'hui la commercialisation d'une nouvelle famille de capteurs de tension avec isolation optique. Cette famille est la première série d'amplificateurs d'isolation optique du secteur fondée sur la modulation sigma-delta et optimisée spécialement pour la mesure de tension. Conçus pour des applications comme la mesure des tensions dans les systèmes électroniques de conversion que l'on trouve communément dans les entraînements moteur, les alimentations électriques à découpage et les systèmes d'énergies renouvelables ainsi que les interfaces de capteur comme l'isolation par thermistances CTN dans les modules IGBT (transistor bipolaire à grille isolée), les modèles ACPL-C87B, C87A, et C870 offrent aux concepteurs une plage d'entrée de 2 V et une impédance très élevée de 1 GOhm.
Des capteurs de pression numériques sur mesure offrent
Sensortechnics propose dès maintenant, pour des applications de mesure de pression particulièrement pointues, par exemple dans le domaine médical ou de l'instrumentation, des capteurs de pression piézorésistifs personnalisés, à partir d'une pleine échelle de mesure de 2,5 mbar, avec une résolution et une précision très élevées. Grâce à la présence d'un amplificateur à faible bruit suivi d'un convertisseur analogique-numérique sur 24 bits, ces capteurs présentent des signaux de sortie numériques à haute résolution, comparables à ceux de capteurs analogiques, avec un rapport signal/bruit très élevé. Les capteurs utilisent un microcontrôleur et des algorithmes de correction offrant une grande souplesse de programmation pour compenser la température et linéariser le signal de sortie du capteur. Les capteurs de pression avec microcontrôleur de Sensortechnics atteignent de très hautes précisions avec une bande d'erreur totale qui est typiquement de 0,1 % et des temps de réponse très rapides jusqu'à 250 µs.
Advantest lance le module horloge 3-en-1 ayant la plus grande productivité dans le domaine du test microélectronique pour améliorer les rendements et faire gagner du temps et de l'argent lors du test des circuits à interface rapide
Advantest Corporation vient de lancer le nouveau module d'horloge T2000 LJC16 à 16 canaux et à grande stabilité de la base de temps (low-jitter). Le module LJC16, réunissant différentes spécifications d'horloge numérique et d'horloge analogique/d'ondes sinusoïdales en un seul système multisites, sera présenté sur le stand d'Advantest (n° 6247 dans le hall Nord) au salon professionnel SEMICON West, qui se tiendra du 10 au 12 juillet à San Francisco.
Analog Devices Présente Le Premier AccéléromèTre Mems Analogique Triaxial à Fort Niveau De « G »
Analog Devices, Inc annoncé sous la référence ADXL377, il mesure l'accélération des événements à fort impact résultant de chocs et de vibrations dans une plage de ±200 g, sans saturation de signal. Grâce à cette plage de mesure combinée à une sortie analogique qui fournit en permanence les données d'impact, l'ADXL377 représente un capteur idéal pour les sports de contact où la détection de forces traumatiques peut révéler des signes de traumatisme cérébral (TBI). Avec une bande passante de 1 600 Hz, l'ADXL377 convient également aux équipements industriels où le niveau des chocs doit être surveillé attentivement. Le nouvel accéléromètre triaxial d'ADI évite la nécessité de capteurs parfaitement alignés ou à positionnement orthogonaux, ce qui simplifie considérablement la conception. L'espace occupé sur le circuit imprimé est jusqu'à cinq fois moins important qu'avec les solutions classiques qui utilisent plusieurs accéléromètres mono-axiaux.
Advantest annonce des solutions de Test d’empilement 3D TSV
Advantest Corporation a annoncé aujourd'hui qu'une nouvelle ligne de produits entièrement automatisée et intégrée pour le test et la manipulation pour les produits TSV 2.5 D et 3D est en cours de développement. Le concept de cette cellule de test appelé, DIMENSION, intègre un cluster de test hautement parallélisé avec des capacités automatisées de manipulation de puce seule ou d'empilement de puces 3D. Lors de l'ADVANTEST EXPO 2012qui se tiendra les 6 et 7 juin au Tokyo International Forum, Advantest présentera le concept de la solution pour la manipulation de la puce, le test et l'intégration de ligne de production. Depuis la tranche de silicium jusqu'aux KGD («known good die») et aux KGS («known good stack»), le concept DIMENSION montre la voie de la capacité de production 2.5D et 3D, des performances de spécifications et d'un incroyable rendement.
Advantest annonce le lancement du système de test de mémoire
Annoncé aujourd'hui le lancement de son nouveau système de test de mémoire, le T5811, qui cible les tests de la mémoire DRAM. Disponible à partir de juillet 2012, le T5811 réduit la consommation électrique de 90 % et le besoin en espace de deux tiers, par rapport aux précédents modèles, et est évolutif grâce un simple échange de composants. Le système sera lancé lors du salon interne d'Advantest, ADVANTEST EXPO 2012, qui se déroulera les 6 et 7 juin à Tokyo.
Advantest va lancer le Service CloudTesting à l'automne 2012
La société Advantest Corporation a annoncé aujourd'hui qu'elle allait lancer une nouvelle solution de test appelée CloudTesting Service (CTS), qui fait appel à la technologie du cloud computing (informatique dématérialisée) pour proposer une technologie de test d'avant-garde destinée aux applications de recherche-développement et de conception de dispositifs à semi-conducteurs. Le service CTS sera proposé sur abonnement. Prévu pour être déployé à l'automne 2012, il sera dévoilé lors de l'exposition d'entreprise ADVANTEST EXPO 2012 organisée les 6 et 7 juin à Tokyo.
Hua Hong NEC et Advantest mettent au point ensemble une solution de tests sur wafer Multi-Site à fort parallélisme pour puces RFID
La société Shanghai Hua Hong NEC Electronics Company, Ltd. (ci-après dénommée Hua Hong NEC), l'une des plus importantes fonderies de silicium en ligne du monde, et Advantest Corporation, l'un des leaders mondiaux des équipements de test automatisés, ont collaboré pour mener à bien une solution de tests parallèles multi-sites au niveau du wafer pour composants à semiconducteurs d'identification à radiofréquence (RFID) conformes à la norme industrielle ISO 14443.
Anritsu Company dote l’analyseur de réseaux vectoriel VectorStar d’une capacité inédite de mesure du facteur de bruit
Anritsu Company dote ses analyseurs de réseaux vectoriels (VNA) VectorStar MS4640A et ME7838A, d'une fonctionnalité sans précédent de mesure du facteur de bruit destinée aux concepteurs, modélisateurs et fabricants d'amplificateurs RF/Hyper.
Anritsu met à jour le logiciel de test IMS et les fonctions d’alertes d’urgence ETWS sur le MD8475A
Anritsu Corporation annonce le lancement de deux nouvelles options logicielles dédiées au testeur d'applications MD8475A, ajoutant le test des services IMS (IP multimedia Subsystem) et ETWS (Earthquake and Tsunami Warning System) sur les Smartphones LTE. Ces options exclusives sont disponibles en mettant à jour le package logiciel "SmartStudio" et par l'introduction d'une nouvelle option CSCF (Call Session Control Function).
Advantest a livré son 100ème système SmartScale, nouvelle famille de testeurs V93000 depuis sa sortie il y a 10 mois
Dix mois seulement après avoir lancé sa génération de testeurs SmartScale, le premier fournisseur d'appareils de tests de semiconducteurs Advantest Corporation a livré son 100ème système V93000 SmartScale, capable de tester de manière extrêmement modulaire et rentable des circuits intégrés conçu dans des technologies de 28 nm et au-delà.
Modules d'acquisition de données USB faible coût Maintenant avec une fréquence d'échantillonnage de 100 KHz
Data Translation annonce la sortie d'un nouveau module USB d'acquisition de données dédié aux applications de mesures de charges, contraintes, pression et autres montages en pont. Le DT9838 supporte les configurations pont, demi-pont et quart-de-pont avec une excitation programmable jusqu'à 10 V et est compatible avec les capteurs intelligents TEDS ( IEEE 1451.4) de catégorie II. Equipé de convertisseurs A/N 24-bit simultanés dotés d'une fréquence d'échantillonnage élevée jusqu'à 52 k Ech/s par voie, le module d'acquisition DT9838 est idéal pour les mesures de haute précision faisant appel à des capteurs dynamiques. Le module fonctionne sur alimentation USB de telle sorte qu'aucune alimentation externe ne soit nécessaire pour la plupart des configurations.
Anritsu lance un Générateur de Poursuite équipé d’un générateur de porteuse pour les Spectrum Master MS2711E, MS2712E et les analyseurs MS2713E
Anritsu lance un générateur de poursuite pour les modèles Spectrum Master MS2711E, MS2712E, et MS2713E qui améliore les performances des analyseurs portables, en permettant aux techniciens de terrain d'effectuer des mesures supplémentaires plus simplement et plus rapidement. Grace au générateur de poursuite, les analyseurs Spectrum Master peuvent être utilisés par les fournisseurs de service, l'engineering R&D, les sous-traitants, les installateurs, les organismes de sécurité publique et les sociétés de diffusion pour effectuer des mesures de très haute précision et pour améliorer leur efficacité lors du déploiement, de l'installation et de la maintenance des réseaux.
La sonde I-jet est disponible — De nouvelles possibilités pour le débogage des applications ARM
IAR Systems annonce la commercialisation et la dis-ponibilité immédiate de la sonde de débogage in-circuit hautes performances I-jet. Grâce à ses caractéristiques évoluées et à ses performances élevées, I-jet ouvre de nouvelles possi-bilités aux développeurs en quête d'un débogage accéléré et stable. La sonde s'intègre en toute transparence à la suite d'outils de débogage et de compilation C/C++ IAR Embedded Workbench pour l'architecture ARM.
Keithley lance sur le marché un SourceMeter forte tension, pour les tests forte puissance dans l’industrie du semiconducteur
Keithley Instruments, Inc vient de commercialiser un nouveau SourceMeter forte puissance, le modèle 2657A. Ce nouveau modèle se rajoute à la série des SourceMeter 2600A et dote cette série d'une capacité de source et mesure forte tension. Avec tous les instruments de cette famille, les clients de Keithley peuvent désormais caractériser une plus grande diversité de composants semiconducteurs de puissance et de matériaux. Une source de tension de 3000V (180W de puissance disponible) permet au modèle 2657A de fournir cinq fois plus de puissance au composant en cours de test (DUT) que les instruments de nos principaux concurrents et ce, pour un prix très nettement inférieur. Le convertisseur de 6 digits ½ , intégré dans le modèle 2657A permet de mesurer des courants avec une résolution de 1 fA (femptoampère), ceci dans le but de pouvoir mesurer les courants de fuites de la prochaine génération de composants de puissance. Pour plus d'informations, rendez vous sur notre site.
Fonctions étendues du testeur de signalisation pour les tests HSDPA Evo/DC-HSDPA des terminaux Smartphone/Mobiles
Anritsu a récemment annoncé la mise à jour des nouvelles options HSPA+ pour le testeur de signalisation et d'applications MD8475A permettant la vérification des Smartphones de dernière génération. Les options matérielles et logicielles permettent au testeur de signalisation Anritsu MD8475A d'effectuer les tests de performance et de vérification des nouvelles générations de Smartphones et de terminaux mobiles HSPA Evolution et DC-HSDPA.
De nouvelles bandes passantes et des extensions de fréquence étendent les capacités de mesure des analyseurs de signaux hyperfréquences
Anritsu annonce le lancement de trois options matérielles destinées à la gamme d'analyseurs MS269x (MS2690A/MS2691A/MS2692A), possédant des fonctions d'analyse FFT large bande permettant d'évaluer des systèmes satellites ou radars, ainsi que les futurs systèmes de communication large bande mobiles. Ces options permettent l'analyse de bandes passantes jusqu'à 125 MHz et de fréquences porteuses allant jusqu'à 26,5 GHz.
De nouvelles fonctionnalités de mesure sur les systèmes de test paramétrique S530
Keithley Instruments, continue d'améliorer les fonctionnalités des systèmes de test paramétrique S530, la solution la plus économique dans l'industrie du semiconducteur pour le test paramétrique en production. Doté de la dernière version du logiciel KTE (Keithley Test Environment) ; V5.4, le S530 peut maintenant être configuré pour la commutation Kelvin en 48 pins et supporte de nouvelles options : la génération d'impulsions, les mesures de fréquence et les mesures de tensions bas niveau. Ces dernières fonctionnalités permettent aux systèmes S530 d'élargir leur utilisation à une plus grande variété d'application de tests paramétriques en production avec une solution ultra rapide et à moindre coût.
Une fois de plus, Anritsu diminue le coût et la taille des outils de test d’installation et de maintenance des réseaux grâce au Network Master MT9090A Micro-OTDR
Une fois de plus, Anritsu diminue le coût et la taille des outils de test d'installation et de maintenance des réseaux grâce au Network Master MT9090A Micro-OTDR: Un outil révolutionnaire pour les réseaux optiques d'aujourd'hui.
Le système SIMfony LTE de COMPRION agrandit sa liste de simulateurs de réseau pris en charge grâce à l’appareil MD8475A d’Anritsu
COMPRION SIMfony, plateforme de référence sur le marché mondial du test des combinés, prend désormais en charge les simulateurs de réseau LTE d'Anritsu, constituant ainsi une plateforme de test de conformité GCF & PTCRB, listée TP126.
JTAG Live assure désormais le test et le débogage des cœurs de microprocesseur
JTAG Live a le plaisir d'annoncer le lancement d'une toute nouvelle série d'outils de débogage pour les systèmes DSP et microprocesseurs utilisant divers cœurs RISC et DSP. Grâce à JTAG Live Corecommander, les ingénieurs peuvent activer les modes OCD (On-Chip Debug) de nombreux cœurs répandus de façon à axer les tests sur le noyau.
Nouvelle version du logiciel ACS : de nouvelles fonctionnalités en fiabilité et en test de composants
Keithley Instruments Inc., l'un des leaders mondiaux dans le domaine de l'instrumentation et des systèmes de test électrique a rajouté de nouvelles fonctionnalités à son environnement de test ACS (Automated Characterization Suite). Cette version 4.4 a été développée pour être utilisée avec les instruments et les systèmes Keithley Instruments principalement utilisés pour la caractérisation automatique de composants et l'analyse de fiabilité. Il supporte une option de test de fiabilité nouvellement améliorée (modèle ACS-2600-RTM), de nouvelles capacités de test de l'instabilité polarisée négative de la température (BTI), des tests à fort courant des composants de puissance et des bibliothèques de projets pour la fiabilité à fortes tensions, le pompage de charges, la fiabilité en mode pulse et le test de migration. Cette dernière version est également compatible avec Windows 7.
Anritsu perfectionne ses analyseurs Cell Master and Spectrum Master pour les tests LTE de terrain
Anritsu Company présente ses nouveaux analyseurs portables MT8212E/MT8213E Cell Master™ et MS2712E/MS2713E Spectrum Master™ dotés de nouvelles possibilités de mesure et plus généralement de performances améliorées, pour accompagner le déploiement des technologies 4G, notamment TD-LTE. Caractérisés par une performance supérieure dans un design compact, le MT8212E/MT8213E et le MS2712E/MS2713E constituent pour les Opérateurs, les Fabricants de matériel de réseau et les Installateurs un outil de test précis et rentable pour le déploiement et la maintenance des réseaux LTE.
La nouvelle pince de couplage TER/S de TESEQ : une solution durable
Teseq, un concepteur et fournisseur leader d'instruments et de systèmes d'essais d'émissions CEM et d'immunité, présente le réseau de couplage/découplage CDN 3425, une nouvelle pince de couplage TER/S satisfaisant aux normes actuelles et à venir. De par sa conception ergonomique, le CDN 3425 allie performances élevées et prix compétitif, et intègre des accessoires de sécurité et d'étalonnage innovants.
Broche de terre orientable dans le socle Test & Burn-in pour boîtier QFP
Yamaichi Electronics introduit la broche de terre orientable pour sa série de socles IC357 Open Top pour boîtiers QFP du type IC avec une plage exposée dans des applications de test et burn-in.
LEM établit une nouvelle référence en précision pour les mesures de courant dans le ferroviaire
LEM annonce le lancement de la gamme ITC, capteurs de mesure de courant haute précision avec isolation galvanique, destinée aux applications ferroviaires, établissant un nouveau référentiel en matière de précision de mesure pour les courants DC, AC et pulsés.
ADLINK Technology introduit son premier contrôleur PXI Express avec processeur Intel Core i5
ADLINK Technology, Inc annonce la sortie de son premier contrôleur PXI Express, le PXIe-3975, de 3U, doté du processeur Intel Core i5-520E destiné aux systèmes de test hybrides basés PXIe. Avec un débit système maximum de 2 Go/s, le PXIe-3975 est leader en solutions de systèmes de test PXIe moyenne gamme pour les applications de tests électroniques fonctionnels et universels.
Nouveau dispositif d’absorption en mode commun (CMAD) de TESEQ pour des mesures d'émissions reproductibles
Teseq, un concepteur et fournisseur leader d'instruments et de systèmes d'essais d'émissions CEM et d'immunité, présente une nouvelle pince de terminaison de ligne conforme aux méthodes d'essais CISPR.
Pickering Interfaces complète sa Gamme de Modules PXI d’insertion de Défauts
Pickering Interfaces étend sa gamme, déjà pourvue de plus de 20 modules avec l'introduction du modèle 40-199. Les modules d'Insertion de défauts sont utilisés dans des systèmes de test automatiques pour simuler des conditions de pannes commues telles que connexion ouverte, court-circuit à la masse ou à d'autres connexions dans un dispositif sous test.
Murata réduit la tolérance des PTC pour la détection de surchauffe
Murata a annoncé aujourd'hui la disponibilité de la série des miniatures PRF15 à coefficient de température positif (CTP), thermistance conçue spécifiquement pour des applications de détection de surchauffe dans un large éventail d'appareils électroniques grand public. Avec + / - 3 degrés C, elle serait la thermistance ayant la tolérance en température la plus serrée de l'industrie d + / - 3 degrés C, la gamme propose des dispositifs de détection avec des températures de l'ordre de 80 degrés C à +150 ° C par palier de 10 °C. La série a une résistance de 1Kohms à +25 degrés C avec des points de détection préférentiels à 10 k ohm et 100 k ohm. Par exemple, la PRF15AR102RB6RC détecte 135 degrés C à 10 k ohm et 150 degrés C à 100 k ohm. La tension maximale est de 32 VDC.
Nouveau simulateur DES de TESEQ avec relais de décharge intégré
Teseq, un concepteur et fournisseur leader d'instruments et de systèmes d'essais d'émissions CEM et d'immunité, présente le NSG 438A, un nouveau simulateur de décharges électrostatique (DES) intégrant un circuit avec relais de décharge permettant de dissiper la charge résiduelle des équipements d'essai (EST) qui ne sont pas reliés à la terre.
GEOTEST présente son nouveau testeur TS-900 pour les tests de composants (SoC , SiP, composants mixtes …)
Geotest - Marvin Test Systems, propose désormais des systèmes de test sur base PXI préconfigurés pour des applications test de semi-conducteurs SoC SiP
Keithley présente de nouveaux contrats de calibration et de réparation : les contrats KeithleyCare
Keithley Instruments annonce la création de nouveaux contrats de service: les contrats Keithley Care afin de fournir aux détenteurs de produits Keithley des prestations de métrologie et de réparation de qualité moins cher qu'une prestation hors contrat Keithley Care. Les clients qui ont opté pour ces contrats Keithley Care sont prioritaires lors des prestations de réparation et de calibration; le temps d'immobilisation de l'instrument est donc réduit au minimum, ainsi que les coûts de service et les procédures administratives. Pour de plus ample informations sur les services disponibles, rendez vous sur notre site : http://www.keithley.com/support/calrepairservices ou téléchargez notre document KeithleyCare : http://www.keithley.com/data?asset=55836.
