Essai et Mesure
Anritsu reçoit la première homologation mondiale PTCRB pour son système de test de conformité RF
Anritsu Corporation est heureux d'annoncer que la société a recu la première homologation mondiale PTCRB pour le Système de Test de Conformité RF ME7873L permettant les tests d'homologation Carrier Aggregation LTE Rel-10.
Embase Double Epaulement Et Boîtier QFP A Broche GND Mobile Pour Test & Déverminage Et Vieillissement
Yamaichi Electronics présente pour les composants QFP la broche Ground mobile sur embase série IC500 Open-Top pour les applications de test et de vieillissement.
Pickering Interfaces Introduit des Solutions de Matrices PXI de Très Haute Densité
Pickering Interfaces élargit sa gamme de matrices 2A avec des solutions qui proposent les plus hautes densités disponibles en PXI. Ces nouvelles matrices augmentent la densité des relais électromécaniques jusqu'à 75 % par rapport aux produits précédents de Pickering Interfaces et plus du double de la densité des produits concurrents.
Pickering Interfaces Introduit une Nouvelle BRIC PXI de Haute Densité
La 40-568 est une BRIC multi-slots de haute densité occupant 2, 4 ou 8 emplacements dans un châssis PXI et propose une gamme de solutions de matrice en 1 pôle allant de 75x4 à 600x4, augmentant ainsi considérablement la densité de matrices de 2A par rapport aux solutions concurrentes.
Advantest installe plusieurs testeurs V93000 Dragon chez Powertech Technology Inc., l’un des leaders taïwanais des tests et de l’assemblage
Advantest a installé plusieurs de ses testeurs de la génération V93000 Smart Scale, configurés pour tester des system-on-chip (SOC), à l'usine d'assemblage et d'essais de semi-conducteurs externalisés (OSAT) de la société Powertech Technology Inc. (PTI) à Taiwan. La totalité des systèmes commandés par PTI présentent la configuration Dragon d'Advantest à capacités de rendement comprenant clock-domain-per-pin, les unités de mesures paramétrées (PMU) par broche et les tests de résistance à système que PTI envisage d'employer en testant des systèmes SOC de pointe.
Pickering Interfaces Étend sa Gamme de Solutions de multiplexeurs PXI
Pickering Interfaces élargit sa gamme de multiplexeurs PXI à faible coût avec l'introduction de la 40-635, un module PXI 3U en 1 slot, offrant toute une gamme de configurations de multiplexeurs (MUX) optimisés pour des applications de test d'usage général.
Tektronix Se Lance Sur Le Marché Des Analyseurs De Puissance
Tektronix a annoncé ce jour son intention de s'implanter sur le marché des analyseurs de puissance et d'introduire une nouvelle gamme complète de produits dans les prochains mois. Pour faciliter cette démarche, Tektronix a mis en place un accord de transfert de technologie qui comprend de la propriété intellectuelle, des brevets et des conceptions d'analyseurs de puissance de son partenaire Voltech, qui abandonnera son activité dans les analyseurs de puissance le 30 septembre 2013.
Tektronix DéVoile Le Seul Moniteur De Profil Du Marché Avec Connexion HDMI/HDCP
Tektronix a élargi ce jour sa gamme avancée de moniteurs de profil et de rasterizers avec ses nouveaux modèles WFM et WVR5250 , les seuls produits de leurs catégories respectives à proposer des entrées HDMI-HDCP qui permettent pour la première fois aux diffuseurs, aux opérateurs et aux fabricants de matériel de surveiller directement la qualité de la sortie vidéo et audio des décodeurs (STB) et lecteurs Blu-ray. Cette fonction unique fait du WFM et du WVR5250 les outils de test vidéo et audio les plus complets, compacts et portables du marché pour l'acquisition, la post-production et le contrôle la conformité.
Keithley ajoute les tests forte puissance au niveau wafer à son logiciel ACS (Automated Characterization Suite)
Keithley Instruments, Inc annonce de nouvelles améliorations apportées à son logiciel ACS (Automated Characterization Suite), supportant maintenant nos solutions de caractérisation de semi-conducteurs de forte puissance. Le logiciel ACS est principalement utilisé pour des applications automatisées de tests paramétriques au niveau wafer, incluant notamment l'automatisation de la caractérisation, l'analyse de fiabilité et les tests complets des chips avant mise en boitier. La mise à jour ACS V5.0 mise à jour s'appuie en particulier sur les nouvelles fonctionnalités forte puissance des SourceMeters modèle 2651A (fort courant) et modèle 2657A (forte tension) pour permettre le test automatisé au niveau wafer de composants forte puissance comme les MOSFET de puissance, les IGBT, les BJT, les diodes, etc.
Anritsu Lance un nouveau logiciel de mesures pour les applications LTE Advanced du MT8820C
En phase avec le déploiement à grande échelle des réseaux mobiles LTE Advanced, Anritsu Corporation annonce la sortie du nouveau logiciel de mesures LTE Advanced pour l'analyseur de radiocommunications MT8820C. La suite logicielle MX882012C-021 offre aux développeurs et aux fabricants d'équipements la première solution intégrée de test des procédures d'appels LTE Advanced, y compris les solutions de test de débit et de réception.
Pickering Interfaces Étend ses Solutions PXI de Matriçage à État Solide
Pickering Interfaces étend sa gamme de matrices PXI à état solide en introduisant une nouvelle matrice PXI 3U avec une tension d'utilisation plus élevée en topologie 64x4 sur un slot.
La bande passante des oscilloscopes temps réel de Tektronix s'apprête à atteindre les 70 GHz
Tektronix, Inc a annoncé aujourd'hui que des essais en laboratoire ont montré que ses oscilloscopes de performances de prochaine génération - en raison de leur disponibilité en 2014 - proposeront une bande passante temps réel de 70 GHz, avec un potentiel d'augmentation significatif. La nouvelle plate-forme d'oscilloscope offrira les performances et la fidélité du signal nécessaires aux applications telles que les communications optiques de 400 Gbps et de 1 Tbps et les communications de données série de 4ème génération. Tektronix a également annoncé un programme d'investissement qui permettra aux clients de bénéficier d'un parcours de migration économique et rentable vers la nouvelle plate-forme.
Système de test pour modules COM Express
Yamaichi Electronics présente le nouveau système de test pour modules COM Express développé par l'European Design Center.
Tektronix Dévoile Sa Prochaine Série D'AWG High Performance
Tektronix, Inc a dévoilé aujourd'hui sa prochaine génération de générateurs de formes d'ondes arbitraires qui offrent une fréquence d'échantillonnage pouvant aller jusqu'à 50 GS/s. Avec la meilleure combinaison du marché de fréquence d'échantillonnage élevée, de mémoire de forme d'onde longue et de plage dynamique profonde, la nouvelle série AWG70000 prend en charge un large éventail d'exigences strictes en matière de génération de signal, que ce soit dans l'électronique de défense, les séries high speed, les réseaux optiques ou les applications de recherche avancée.
JTAG CoreCommander teste les FPGA
CoreCommander FPGA, de JTAG Technologies, offre une solution générique reposant sur du code VHDL qui permet aux ingénieurs de relier le port standard de test et de programmation JTAG (TAP) à des cœurs IP propriétaires (contrôleurs DDR, E-net MAC, contrôleurs USB, etc.) afin d'en prendre le contrôle aux fins de test. S'inscrivant dans une gamme performante de produits de test et de programmation embarqués (ETP), CoreCommander FPGA s'adresse principalement aux concepteurs et testeurs de matériel.
Tektronix Annonce L'analyse De Modulation Cohérente Superchannel Multi-Porteuse 400G
Tektronix a annoncé ce jour une nouvelle option logicielle pour sa série d'analyseurs de modulation optique OM4000 qui assure la prise en charge des tests automatiques pour la modulation 400G optique cohérente multi-porteuse. Cette option logicielle permettra de réduire considérablement les temps de test pour les chercheurs travaillant sur les systèmes optiques cohérents 400G et plus rapides, tout en offrant la flexibilité nécessaire pour définir le nombre de porteuses, l'espacement entre les porteuses et les formats de modulation. Elle offre également la compilation des résultats de mesure des porteuses et la visualisation multi-porteuse pour une analyse intégrée.
Nouvelle Gamme RAPID A Sondes Mobiles Pour Le Test Des Circuits Imprimés Nus
SEICA vient d'introduire officiellement une nouvelle gamme de testeurs, nommée RAPID testeurs à sondes mobiles dédiés pour le test électrique de PCB (Printed Circuit Board) ou Circuit Imprimé Nu. Cette nouvelle gamme de testeurs bénéficie de toute l'expertise et l'expérience de SEICA depuis 1995 avec sa ligne de produits BBT (Bare Board Tester) .
Testeur de réseau optique portable évolué
Livingston vient d'étendre sa gamme de produits en location capables de supporter les réseaux optiques de nouvelle génération, en stockant le tout dernier ODTR (Optical Time Domain Reflectometer, ou réflectomètre optique en domaine temps) de Fluke Networks. Doté d'une panoplie de fonctions très complète, l'OptiFiber Pro est le premier OTDR du marché spécialement conçu pour relever les défis que posent les infrastructures modernes à fibre optique d'entreprise, par opposition aux infrastructures opérateur.
Anritsu : la famille des VNA Master s’agrandit avec des modèles couvrant la gamme 5kHz à 15 GHz
Anritsu lance le MS2027C et le MS2037C, les deux derniers membres de la gamme des analyseurs de réseau vectoriels portables VNA MASTER. Ces deux nouveaux modèles sont parfaitement adaptés aux exigences des utilisations de terrain, y compris pour les industries de l'Aéronautique et de l'Espace, la Défense, les communications par satellite (SATCOMS), les liaisons sans fil commerciales et la Recherche.
Nouveau Système De Sonde 30 GHz Idéal Pour Les Mesures De Données Série De 4èMe Génération
Tektronix a annoncé ce jour le système de sonde 30 GHz à connecteurs coaxiaux présentant le bruit le plus faible et la bande passante la plus large du marché. Le nouveau système de sonde de série P7600 est doté de filtres DSP spécifique à la sonde qui accroissent les performances et permettent de minimiser le niveau de bruit. Associé à l'oscilloscope DPO/DSA73304D de Tektronix, le système de sonde de la série P7600 offre connectivité et fidélité du signal pour les mesures à haute vitesse de signaux différentiels sur les conceptions de bus série telles que le PCI Express.
Tektronix Lance Un Nouveau Kit D'Outils Pour L'Analyse De Liaison Des Données Série
Tektronix a annoncé ce jour un nouveau progiciel de visualisation d'analyse de liaison de données série (SDLA Visualizer) pour les oscilloscopes Tektronix les plus performants, y compris la série DPO/DSA/MSO70000. Les concepteurs qui travaillent sur la prochaine génération de normes série à haute vitesse peuvent utiliser SDLA Visualizer pour spécifier leur liaison, dé-intégrer des composants de la voie de mesure, simuler des composantes de liaison virtuelles, appliquer l'égalisation et prendre les mesures en différents points de la ligne de transmission d'un système de données série, module ou chipset.
Tektronix relève les performances de sa série d'analyseurs de spectre temps réel de moyenne gamme
Tektronix a annoncé aujourd'hui l'analyseur de spectre temps réel de milieu de gamme le moins cher du marché. L'appareil offre les possibilités les plus avancées actuellement en matière de détection de signal et de déclenchement. Cette extension de la série RSA5000 d'analyseurs de spectre temps réel comprend les nouveaux modèles 26,5 GHz et 15 GHz, ainsi que l'option récemment annoncée de bande passante 110 MHz, désormais disponible sur tous les analyseurs de spectre temps réel proposés par Tektronix.
L’outil de développement RTD de Anritsu permet un développement rapide et flexible des mesures LTE “Rich Communication Services”
Anritsu lance une nouvelle option à son outil de développement Rapid Test Designer (RTD) qui offre aux ingénieurs une solution unique de test de la signalisation LTE avec les fonctions IMS, audio et vidéo. Cette extension du RTD fournit une solution plus rapide et plus flexible pour tester les Rich Communication Services (RCS) sur les équipements LTE au cours de leur développement. L'environnement unique de création de test permet aux ingénieurs de créer des tests 5 à 10 fois plus rapidement qu'en utilisant un langage de script traditionnel.
Tektronix présente de nouveaux testeurs de taux d'erreurs binaires multi-canal à 32 Gbits/seconde pour la conception et l'essai des réseaux 100G
Tektronix, Inc a annoncé aujourd'hui une nouvelle série de générateurs de mire et de détecteurs d'erreur à haut débit destinés à faciliter les essais de communication de données optiques et de série sur des signaux pouvant atteindre 32 Gbits/s. Les nouveaux générateurs de mire de série PPG3000 et détecteurs d'erreur binaire de série permettent la génération de mire multi-canal avec une programmation des données spécifique à chaque canal, idéale pour les essais de marge critique sur certains standards critiques tels que 100G Ethernet, qui peuvent demander jusqu'à 4 canaux.
Ces Processeurs De Mesure D'énergie Monophasée Supervisent Précisément L'Alimentation Electrique, Pour Une Fraction Du CoûT
Maxim Integrated Products, Inc. a annoncé qu'il démarrait l'échantillonnage de ses processeurs de mesure d'énergie monophasée 78M6610+PSU1)/78M6610+LMU2). Ces processeurs sont en fait un sous-système de mesure d'énergie sur une seule puce. Ils permettent d'offrir des fonctions de détection et de diagnostic du réseau électrique à des conceptions existantes, sans le coût d'un SoC compteur électrique classique. Les deux dispositifs contiennent un firmware unique adapté aux besoins de l'application finale. Le 78M6610+PSU est spécialement conçu pour la supervision en temps réel des data centers (centres de traitement de données), des serveurs, et des équip ements de télécom, tandis que le 78M6610+LMU est une solution à usage plus général, pour des applications telles que les produits blancs, les prises intelligentes, les chargeurs EV, ou les convertisseurs solaires.
Teseq met au point un réseau de couplage/découplage destiné aux essais d’ondes de choc pour les télécommunications
Teseq a conçu un nouveau réseau de couplage/découplage (CDN) destiné aux essais d'ondes de choc sur des lignes de télécommunications haut débit symétriques non blindées, comme Ethernet. Le CDN HSS-2 permet d'effectuer des essais d'ondes de choc avec des impulsions de 1,2/50 µs sur des lignes de télécommunications actives.
La Nouvelle Cellule De Test D'Advantest Choisi Par Marvell Semiconductor Pour Réduire Ses Coûts De Tests Pour Les Circuits Intégrés De Haut Volume, Très Sensibles Aux Coûts
Advantest Corporation la première unité d'évaluation de sa nouvelle cellule de test qui intègre le dispositif T2000 EPP (Enhanced Performance Package) et son handler dynamique M4841. La cellule de test T2000+M4841, capable de tester jusqu'à 16 dispositifs en parallèle, est conçue pour atteindre le prix de revient le plus faible du secteur des tests finaux des semi-conducteurs de haut volume et très sensibles aux coûts, parmi lesquels les processeurs à bande de base, les processeurs d'application, les microprocesseurs, les microcontrôleurs et les circuits hautement intégrés PMIC (Power Management Integrated Circuits).
Cryptography Research accrédite Riscure en tant que laboratoire d’évaluation pour son programme de test DPA
Cryptography Research annonce aujourd'hui l'accréditation de Riscure en tant que laboratoire de tests indépendant pour réaliser des évaluations pour le programme de validation des contre-mesures au DPA. Ce programme définit les procédures à mettre en place pour réaliser des tests indépendants et rigoureux qui permettent d'évaluer la résistance des produits face aux attaques de type DPA.
Les analyseurs de spectre portatifs de Tektronix utilisent la technologie DPX pour traquer les signaux insaisissables sur le terrain
Tektronix a annoncé aujourd'hui la sortie sur le marché de ses analyseurs de spectre portatifs H500 et SA2500, dotés de la technologie DPX™ de processeur d'image du signal pour fournir une vue RF en direct du spectre. Avec leur technologie DPX absolument unique et leurs fonctions de mappage et de classification de signaux intégrées dans un boîtier compact et robuste, les instruments sont conçus pour permettre aux régulateurs du spectre de gérer et de surveiller efficacement le spectre sur le terrain, ainsi que de traquer les signaux brouilleurs et insaisissables.
Tektronix introduit les oscilloscopes d'entrée de gamme de série TBS1000
Tektronix a présenté la série TBS1000 d'oscilloscopes d'entrée de gamme, qui permet aux ingénieurs électriciens, aux éducateurs et aux amateurs de disposer d'un outil abordable, fiable et riche en fonctionnalités pour une grande variété d'applications générales de tests électroniques.
Advantest présente le nouveau module de capture d'image T2000 3Gbps CMOS pour la plateforme T2000 ISS leader de l'industrie du test de semi-conducteurs
La société Advantest leader d'équipements de test de semi-conducteurs a lancé le module IC de capture d'image le plus rapide de l'industrie pour tester avec une bonne rentabilité les puces des interfaces haute-fréquence, faible puissance D-PHY et M-PHY, prévues pour stimuler la croissance sur le marché des capteurs d'images. Le nouveau module de capture d'image T2000 3Gbps CMOS fonctionne sur le système T2000 ISS d'Advantest, plateforme leader de l'industrie des tests pour une large gamme de dispositifs du système mono-puce (SoC).
Gestionnaire d'alimentation 80V rail-à-rail, mesurant l’intensité et la tension avec une précision de ±0,75%
Linear Technology Corporation présente le LTC2945, un gestionnaire couvrant une large gamme de systèmes à interface I2C, qui mesure l'intensité, la tension et la puissance de tout rail de tension, de 0V à 80V. Dans de nombreux cas, les solutions précédentes de gestion d'alimentation sont limitées à des alimentations de 3V à 5V et ne régulent que des tensions inférieures à 36V, nécessitant des circuits supplémentaires pour gérer des tensions plus fortes. Le LTC2945 propose plusieurs options d'alimentation souples d'utilisation, une tension prise sur l'alimentation régulée de 4V à 80V, une alimentation auxiliaire de 2,7V à 80V, ou une tension provenant du régulateur shunt de la carte. Ces options d'alimentation permettent de se passer d'un régulateur abaisseur séparé, d'un régulateur shunt ou d'un diviseur résistif inefficace, tout en régulant tout rail de tension de 0V à 80V. Le LTC2945 est une solution simple, en un circuit intégré, qui utilise un CAN Delta Sigma interne et un multiplexeur pour permettre les mesures des intensité et tension, sur 12 bits, et les lectures de puissance sur 24 bits. La large gamme de tensions de fonctionnement du LTC2945 est idéale pour de nombreuses applications, spécialement pour les équipements de télécommunications 48V, les cartes mezzanines avancées (AMC) et les serveurs lames. Le régulateur shunt de la carte permet la régulation d'alimentations de tensions supérieures à 80V et de tensions négatives. Le LTC2945 mesure l'intensité et la tension soit en continu soit à la demande, calcule la puissance et stocke toutes ces informations avec les valeurs minimales et maximales, dans des registres accessibles par l'interface I2C.
Advantest lance sa solution de tests T2000 IMS pour les essais à bas coût des microcontrôleurs intégrés et des circuits intégrés pour cartes à puce
Advantest Corporation lance son nouveau testeur T2000 IMS, un système de tests capable de tester massivement en parallèle et d'atteindre le plus faible coût de test pour des microcontrôleurs intégrant des circuits analogiques et des mémoires de type flash embarquées. Ce nouveau testeur sera présenté sur le stand d'Advantest (stand n°#8C-901, Hall 8) au salon SEMICON Japan Trade Show, qui se tiendra du 5 au 7 décembre 2012 dans le centre de congrès de Makuhari dans le quartier de Chiba.
Tektronix introduit la suite de test automatisée de Tx et de Rx PCI Express 3.0 la plus complète
Tektronix, Inc a annoncé aujourd'hui la solution complète de test de conformité et de débogage automatisée d'émetteur (Tx) et de récepteur (Rx) la plus souple et la plus complète pour la norme PCI Express 3.0. Avec les nouvelles améliorations apportées à la série de testeurs de taux d'erreur de bits BERTScope et au logiciel de test PCI Express, Tektronix propose désormais aux concepteurs de silicium, d'hôtes et de cartes un guichet unique pour les tests PCI Express 3.0.
TestWay Express génère les programmes de test et d'assemblage
TestWay Express est une solution totalement intégrée qui permet aux fabricants de cartes électroniques d'optimiser le lien Design to Test:
Keithley allie la gamme de Curve Tracer et sa simplicité à la flexibilité et la précision d'un analyseur paramétrique
Keithley Instruments pour répondre à la demande de plus en plus forte de caractérisation I-V de composants de puissance jusqu'à 3000V max et 100A. C'est actuellement la solution la mieux positionnée en terme de prix sur le marché pour caractériser les composants semi-conducteurs de puissance, y compris ceux basés sur les technologies carbure de silicium (SiC) et nitrure de gallium (GaN).
EXFO rehausse le rapport coût-efficacité des tests de terrain grâce à un programme de licences de test flottantes pour l’écosystème FTB
EXFO annonce le lancement de FTB AnywhereMC, un programme de licences de test partagées destinées aux populaires plateformes de l'écosystème FTB. Cette façon unique et innovatrice de se procurer des applications de test avancées permet aux opérateurs de réseaux d'acheter un certain nombre de licences qui sont hébergées dans le nuage et qui peuvent être partagées par leurs techniciens, n'importe quand et à partir de n'importe où.
Le Nouveau Jeu De Circuits De Mesure Avec Isolation D’Analog Devices Assure L’Immunite Des Compteurs D’energie Aux Interferences Magnetiques
Analog Devices annonce ce jour le premier jeu de circuits de mesure entièrement isolé pour applications de relevé de la consommation d'énergie en polyphasé disponible sur le marché. Référencé ADE7978, ce jeu de circuits associe le circuit intégré de mesure triphasé ADE7978 et jusqu'à quatre convertisseurs analogique/numérique entièrement isolés ADE7933. Le convertisseur A/N sigma-delta à trois voies ADE7933 intègre les technologies iCoupler et isoPower brevetées par Analog Devices pour assurer la conversion d'énergie continu-continu et le transfert de signaux avec isolation à travers une barrière isolante jusqu'à 5 kV. Cette solution permet d'utiliser pour la mesure de courant des résistances shunt au lieu de transformateurs de courant, assurant ainsi l'immunité aux interférences magnétiques et à toute tentative de falsification. L'utilisation de résistances shunt à la place des transformateurs de courant permet par ailleurs de réduire le coût et l'encombrement du système.
Keithley annonce la mise sur le marché d’un Picoampèremètre à très faible résolution de mesure en courant équipé de 2 voies mesure en courant et de 2 sources de tension
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux dans le domaine de l'instrumentation et des systèmes renforce son leadership dans le domaine des mesures bas niveau avec un picoampèremètre double voie, équipé de deux sources de tension indépendantes de 30V utilisable en mode non flottant uniquement, avec une résolution de mesure de 1fA. Le picoampèremètre modèle 6482 est le dernier-né de la ligne de produits d'instruments bas niveau de Keithley.
Avec la nouvelle série d’oscilloscopes Tektronix d’entrée de gamme, le débogage des systèmes intégrés est enfin à portée de main
Tektronix dévoile aujourd'hui sa nouvelle gamme d'oscilloscopes vendue à un prix attractif, la gamme MSO/DPO2000B, qui met à portée de main des ingénieurs et des enseignants des fonctions de débogage avancées. Grâce à ces nouveaux oscilloscopes, tous les ingénieurs, même ceux disposant d'un budget très limité, peuvent plus facilement que jamais bénéficier de tous les avantages en termes de débogage du déclenchement et du décodage complet du bus série.
