N2884A, Agilent Technologies,
Agilent Technologies présente une solution de sonde de wafer différentielle 12 GHz assurant une meilleure intégrité du signal
News Release from:
Agilent
08 March 2010
Agilent Technologies Inc. a présenté aujourd'hui une solution de sonde de wafer différentielle 12 GHz. La pointe de sonde fine est une solution à haute bande passante et haute fidélité qui permet aux ingénieurs de R&D et de test de déboguer et de tester des CI actifs grande vitesse à l'aide d'un oscilloscope.
La pointe de sonde fine différentielle N2884A InfiniiMax fait appel à la technologie de tête de zone ZIF abordable de Agilent qui délivre une réponse en fréquence plate sur la totalité de la spécification de bande passante 12 GHz. La pointe élimine la distorsion et le chargement qui affectent les sondes avec des résonances intra-bande. La N2884A mesure une tension par rapport à une masse locale adjacente ou à un autre nœud du dispositif sous test. D'autres solutions mesurent une tension par rapport à une masse éloignée du point de sondage. La technique utilisée pour la N2884A offre une meilleure réjection du bruit en mode commun et une intégrité du signal supérieure dans les mesures, ce qui élimine une partie des effets liés à la sonde que rencontrent les ingénieurs lors du débogage des conceptions de dispositifs offrant des vitesses supérieures.
La sonde N2884A est livrée avec un bras et un jeu de cinq pointes. Le bras de sonde est compatible avec le micropositionneur de Wentworth Laboratories.
